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東芝ITコントロールシステム株式会社

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お知らせ

2016.08.26 このたび当社は「第8回 総合検査機器展 JIMA2016」へ出展いたします。 X線マイクロCTスキャナの新製品 『TOSCANER-32300μFD-Z』 の実機を初公開いたします。 従来のマイクロCTに対し、新たなスキャンモード等、機能を向上し、さらに画像再構成処理速度をアップしました。 当ブースでは、実機を使用したデモンストレーションやショートプレゼンを予定しております。 ぜひご来場ください。

 ◆ 日  時 : 2016年 9月28日 (水) ~ 9月 30日 (金) 10:00 ~ 17:00
   ※御入場時に、ご招待券とお名刺2枚をご準備下さい。
 ◆ 展示場所 : 東京ビックサイト 東展示ホール 5J-54ブース
2016.05.13 当社が「JPCA Show 2016」に出展いたします。 2016年 1月発表の新製品 『TXLamino(ティーエックスラミノ)』 の特徴をプレゼンにてご紹介します。 またX線検査や装置について、個別にご説明対応いたします。ぜひご来場ください。

 ◆ 日  時 : 2016年 6月 1日 (水) ~ 6月 3日 (金) 10:00 ~ 17:00
   ※御入場時に、ご招待券とお名刺2枚をご準備下さい。
 ◆ 展示場所 : 東京ビックサイト 東展示ホール 5B-14ブース
2016.03.31 女性の職業生活における活躍の推進に関する法律(女性活躍推進法)
に基づく一般事業主行動計画を策定、公表いたしました。
 「女性の活躍推進・両立支援総合サイト」(厚生労働省委託)
  http://www.ryouritsu.jp/hiroba/search_dtl.php?cn=41433
2016.01.05 第33回 エレクトロテストジャパン」に出展致します。たくさんのご来場をお待ちしております。

 ◆日  時 : 2016年 1月13日 (水) ~ 1月15日 (金) 10:00 ~ 18:00(15日は17:00まで)
 ◆展示場所 : 東京ビックサイト 東ホール (ブースNo : E18-36)
2015.12.10 当社は、ナノフォーカスX線非破壊検査システム 新商品「TXLamino(ティーエックスラミノ)」を発表させていただく事となりました。ナノフォーカスX線、高精細メガピクセル検出器、4Kモニタを搭載しており、高分解能・高解像度・高画質・操作性を 向上させたX線非破壊検査システムです。

本製品は、多方向からのX線透視画像を得られるハイグレードモデルの機種で、傾斜・回転型高機能ラミノCT機能を標準搭載しており電子デバイス分野(スマホ・自動車・医療・航空 他)の高密度実装基板、薄い金属板の接合面、FRP(繊維強化樹脂)、シートなどの検査・解析に最適な装置となっております。

第33回 エレクトロテストジャパン」に出展致しますので、たくさんのご来場をお待ちしております。
 ◆日  時 : 2016年 1月13日 (水) ~ 1月15日 (金) 10:00 ~ 18:00(15日は17:00まで)
 ◆展示場所 : 東京ビックサイト 東ホール (ブースNo : E18-36)
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