■ 特徴

独自の測角機構を採用。高精度測定。

単結晶（Si、GaAs、GaP、InP、InSb）インゴットのＶノッチ結晶面方位、インゴット軸方位などを高精度に測定します。インゴットの外観、形状、重量などを同時に検査するタイプもあります。また、適応分野によりシリーズ化されています。
＞＞詳細はこちら

■ 適応分野

●オンラインで移動体を透視検査

●変形中、運動中の物体をストロボ撮影のように透視検査

●プラスチックス、CFRPなどの低吸収材にも

※当社製パルスX線発生装置と組み合わせると、パルスX線による撮像ができます。